本發(fā)明涉及一種光電組件的同心度檢測設(shè)備及其檢測方法，尤指一種適用于檢測光通訊領(lǐng)域中所使用的傳送光學(xué)組件及接收光學(xué)組件的同心度。

背景技術(shù)：

在光通信領(lǐng)域中，光電收發(fā)器(optoelectronic transceiver)主要的是用來進(jìn)行光信號和電信號的轉(zhuǎn)換及傳輸?shù)慕槊?，其包括二個(gè)主要的光電組件，分別為光學(xué)傳送器(optical transmitter)和光學(xué)接收器(optical receiver)。其中，光學(xué)傳送器將電數(shù)據(jù)信號轉(zhuǎn)換成光信號，再用光纖纜線(fiber optic cable)傳送此光信號；而光學(xué)接收器(optical receiver)透過光纖纜線接收光信號，再將光信號轉(zhuǎn)換成電信號。

然而，不論光學(xué)傳送器或光學(xué)接收器都有一重要的光學(xué)組件(optical subassembly)，光學(xué)傳送器的光學(xué)組件稱為傳送光學(xué)組件(Transmitting Optical SubAssembly，TOSA)，光學(xué)接收器的光學(xué)組件稱為接收光學(xué)組件(Receiving Optical SubAssembly，ROSA)，以下將以傳送光學(xué)組件為例進(jìn)行說明。

請一并參閱圖1A、及圖1B，圖1A是一光電組件的示意圖，圖1B是一光電組件的分解圖。圖1A、及圖1B中顯示有一傳送光學(xué)組件，其用以將光學(xué)傳送器輸出的光信號耦合(couple)到一光纖。此一光電組件主要包括一光電轉(zhuǎn)換元件E1、一套筒E2、及一固定套環(huán)E3，其中光電轉(zhuǎn)換元件E1主要用于發(fā)送光信號，固定套環(huán)E3用于連接并固定光纖，而套筒E2則是負(fù)責(zé)連接光電轉(zhuǎn)換元件E1與固定套環(huán)E3，且套筒E2內(nèi)包括一光學(xué)構(gòu)件(圖中未示)，其用以將光電轉(zhuǎn)換元件E1所發(fā)射的光信號對準(zhǔn)及聚焦到此光纖的末端。

然而，各零件難免有各自的誤差，且在一般的組裝過程中，也難免會(huì)有組裝上的公差，此等誤差或公差將導(dǎo)致光信號傳輸路徑發(fā)生偏移；較常見地，即因?yàn)樘淄睧2和固定套環(huán)E3間的接合松動(dòng)、組裝位置偏移、或該二元件自身誤差所造成同心度(core concentricity)不足，導(dǎo)致無法掌握光收發(fā)結(jié)構(gòu)的成品或半成品的可靠度，進(jìn)而造成產(chǎn)品良率的不確定性。

因此，在現(xiàn)有的光電組件的同心度檢測設(shè)備中常見以影像檢測的方式來進(jìn)行，亦即拍攝光電組件的影像，藉以判斷光電組件中套筒E2和固定套環(huán)E3的同心度或有無其他瑕疵。進(jìn)一步說明，在現(xiàn)有技術(shù)中，通常會(huì)使用攝像裝置來拍攝光電組件的光收發(fā)端面，并透過所拍攝的影像不管是以人工的方式或電腦自動(dòng)判別的方式來判斷套筒E2和固定套環(huán)E3二者的同心度。惟，此一方式精確度不足，且很容易發(fā)生誤判。

再者，如美國專利公開第US 2005/0184227 A1號「Method and apparatus for testing for the quality of a light transmitting/receiving structure(檢測光收發(fā)結(jié)構(gòu)良莠的方法及裝置)」此一先前技術(shù)，其公開了不同于上述現(xiàn)有技術(shù)的檢測方式。上開美國專利公開文獻(xiàn)主要是將光學(xué)組件直接透過一光纖連接到光功率量測裝置，并利用光功率量測裝置來量測光信號強(qiáng)度變化用以判斷光學(xué)組件的良莠。再者，如上開美國專利文獻(xiàn)中段落[0040]中所記載的，欲檢測光學(xué)組件的同心度時(shí)，必須更進(jìn)一步地透過旋轉(zhuǎn)光纖、以及改變光纖和光學(xué)組件的耦合方向等手段來作為檢測條件，而光功率量測裝置則是在當(dāng)施予上述檢測條件下來進(jìn)行量測。

然而，很明顯地，上開美國專利公開文獻(xiàn)所揭露的技術(shù)手段難以適用于現(xiàn)今追求高檢測效率的趨勢，因其檢測過程繁復(fù)、且耗時(shí)。綜上所述，一種成本低廉、可以快速檢測、又可提供高檢測精度的光電組件的同心度檢測設(shè)備及其檢測方法，實(shí)為目前產(chǎn)業(yè)界的迫切需求者。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的主要目的是在提供一種光電組件的同心度檢測設(shè)備及其檢測方法，能快速檢測光電組件的同心度，且檢測精度高，實(shí)能符合現(xiàn)今追求高檢測效率的趨勢。

為達(dá)成上述目的，本發(fā)明一種光電組件的同心度檢測設(shè)備，該光電組件包括一光電轉(zhuǎn)換元件、一套筒、及一固定套環(huán)，其中固定套環(huán)套接于套筒，套筒套接于光電轉(zhuǎn)換元件，而該設(shè)備主要包括一測距模組、及一控制器；測距模組設(shè)置于光電組件的一側(cè)；控制器電性連接于測距模組，且控制器控制測距模組對光電組件的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距，而控制器根據(jù)測距模組所量測到的測距值來判斷光電組件的套筒和固定套環(huán)的同心度。

據(jù)此，本發(fā)明光電組件的同心度檢測設(shè)備主要運(yùn)用測距原理，而利用測距模組分別量測其至套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面間的距離來作為測距值，且測距模組分別量測套筒和固定套環(huán)上至少兩處；而控制器則根據(jù)該等測距值來判斷套筒、以及固定套環(huán)的同心度，故能大幅提升檢測效率、及檢測精度。

較佳的是，在本發(fā)明的設(shè)備中，測距模組可包括一第一測距裝置、及一第二測距裝置，而第一測距裝置可對應(yīng)于套筒，第二測距裝置可對應(yīng)固定套環(huán)；控制器可控制第一測距裝置、及第二測距裝置分別對光電組件的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距，且控制器根據(jù)第一測距裝置、及第二測距裝置所量測到的測距值來判斷光電組件的套筒和固定套環(huán)的同心度。據(jù)此，本發(fā)明的測距模組可配置二測距裝置，其分別對光電組件的套筒和固定套環(huán)進(jìn)行測距，藉此提高檢測效率、及檢測精度。

再者，在本發(fā)明的設(shè)備中，控制器可分別比對第一測距裝置于套筒的外環(huán)周面上 至少二處所量測到的測距值、以及第二測距裝置于固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處所量測到的測距值，來判斷光電組件的套筒和固定套環(huán)的同心度。換言之，本發(fā)明可以根據(jù)套筒的外環(huán)周面上至少二處的測距值、以及根據(jù)固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處的測距值，將之分別比對是否相符或者差距于一預(yù)定值內(nèi)，藉此判斷套筒和固定套環(huán)的同心度。

另外，在本發(fā)明的設(shè)備中，第一測距裝置、及第二測距裝置可沿一直線設(shè)置，而直線平行于光電組件的中心軸。亦即，第一測距裝置和第二測距裝置可以平行于光電組件的中心軸的方式來分別量測套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處的測距值。

又，在本發(fā)明的設(shè)備中，該控制器可計(jì)算第一測距裝置與第二測距裝置于套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處中每一處所分別量測到的測距值間的差值，并比對等差值來判斷套筒和固定套環(huán)的同心度。換言之，本發(fā)明可利用比對至少二個(gè)差值的方式來判斷套筒和固定套環(huán)的同心度，而每一個(gè)差值由所對應(yīng)的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上所分別量測到的測距值計(jì)算而得。

再且，在本發(fā)明的設(shè)備中，測距模組可更包括一第三測距裝置、及一第四測距裝置，其分別與第一測距裝置和第二測距裝置分設(shè)于不同方位處；而第三測距裝置可對應(yīng)于套筒，第四測距裝置可對應(yīng)于固定套環(huán)；且控制器可控制第一測距裝置、及第三測距裝置分別對套筒的外環(huán)周面上至少二處進(jìn)行測距，控制器可控制第二測距裝置、及第四測距裝置分別對固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處進(jìn)行測距。據(jù)此，本發(fā)明可以透過四個(gè)測距模組來檢測套筒和固定套環(huán)的同心度，其中兩兩分別對套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上至少二處進(jìn)行測距，故可更佳提升檢測效率、及檢測精度，又可降低機(jī)構(gòu)的復(fù)雜度。

較佳的是，在本發(fā)明的設(shè)備中，測距模組可包括一非接觸型測距模組，其可為微波測距模組、紅外線測距模組、雷射測距模組、超音波測距模組、或其他等效的測距模組；抑或，本發(fā)明的測距模組可包括一接觸型測距模組，其包括一頂桿，該頂桿抵接于套筒和固定套環(huán)中至少一個(gè)的外環(huán)周面上。

優(yōu)選為，本發(fā)明的設(shè)備可更包括一旋轉(zhuǎn)臺(tái)，其系電性連接于控制器，而光電組件可固定于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上；控制器控制旋轉(zhuǎn)臺(tái)至少局部地旋轉(zhuǎn)，以供測距模組對光電組件的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距。據(jù)此，本發(fā)明可以透過旋轉(zhuǎn)臺(tái)來帶動(dòng)光電組件轉(zhuǎn)動(dòng)，用以協(xié)助測距模組對套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距。

此外，本發(fā)明的設(shè)備可更包括一繞行載具，其系電性連接于該控制器，-而測距模組可組設(shè)于繞行載具上；控制器控制繞行載具移動(dòng)，使測距模組以光電組件為中心至 少局部地繞行，以供測距模組對光電組件的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距。據(jù)此，本發(fā)明可以透過繞行載具來帶動(dòng)測距模組以光電組件為中心繞行，用以協(xié)助測距模組對套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距。

為達(dá)成前述目的，本發(fā)明一種光電組件的同心度檢測方法，而光電組件包括一光電轉(zhuǎn)換元件、一套筒、及一固定套環(huán)，且固定套環(huán)套接于套筒，套筒套接于光電轉(zhuǎn)換元件，該方法包括以下步驟：首先，測距模組對光電組件的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處進(jìn)行測距；接著，一控制器根據(jù)前述步驟所取得的該等測距值，來判斷光電組件的套筒和固定套環(huán)間的同心度。

據(jù)此，本發(fā)明光電組件的同心度檢測方法同樣運(yùn)用測距原理，分別量測至少二處的測距模組至套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面間距離的測距值，進(jìn)而根據(jù)該等測距值來判斷套筒、以及固定套環(huán)的同心度

另外，在本發(fā)明的方法中，控制器可分別比對測距模組于套筒上至少二處所量測到的測距值、以及比對測距模組于固定套環(huán)上至少二處所量測到的測距值，來判斷光電組件的套筒和固定套環(huán)的同心度。換言之，本發(fā)明的方法可透過比對套筒上至少二處的測距值來判斷同心度、以及可透過比對固定套環(huán)上至少二處的測距值來判斷同心度。

此外，本發(fā)明的方法中控制器可更進(jìn)一步計(jì)算測距模組于套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上各至少二處中位于同一軸向方位處所分別量測到的測距值的差值；而控制器比對該等差值，來判斷套筒和固定套環(huán)間的同心度。換言之，本發(fā)明可以比對至少二個(gè)差值來判斷套筒和固定套環(huán)的同心度，而每一個(gè)差值由位于同一軸向方位處的套筒和固定套環(huán)的外環(huán)周面上所分別量測到的測距值計(jì)算而得。

附圖說明

圖1A為一光電組件的示意圖。

圖1B為一光電組件的分解圖。

圖2A為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例采用非接觸型測距模組的示意圖。

圖2B為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的系統(tǒng)框架圖。

圖3A、3B為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的局部放大示意圖。

圖4A為同心度不足的光電組件的俯視示意圖。

圖4B為根據(jù)圖4A所顯示的光電組件所繪制出的測距值與角度的關(guān)系圖。

圖4C為同心度良好的光電組件所繪制出的測距值與角度的關(guān)系圖。

圖4D為同心度良好的光電組件所繪制出的測距的差值與角度的關(guān)系圖。

圖5為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例采用接觸型測距模組的示意圖。

圖6為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的示意圖。

圖7為本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的示意圖。

圖8為本發(fā)明第四較佳實(shí)施例的示意圖。

圖9為本發(fā)明第五較佳實(shí)施例的示意圖。

符號說明：

1 測距模組

2 第一測距裝置

21，31 頂桿

22 第三測距裝置

3 第二測距裝置

32 第四測距裝置

4 控制器

5 旋轉(zhuǎn)臺(tái)

6 繞行載具

61 環(huán)形軌道

62 移載裝置

7 轉(zhuǎn)動(dòng)架

E 光電組件

E1 光電轉(zhuǎn)換元件

E2 套筒

E21 套筒的軸心

E22 水平直線

E3 固定套環(huán)

E31 固定套環(huán)的軸心

E32 不規(guī)則弧線

具體實(shí)施方式

本發(fā)明光電組件的同心度檢測設(shè)備及其檢測方法在本實(shí)施例中被詳細(xì)描述之前，要特別注意的是，以下的說明中，類似的元件將以相同的元件符號來表示。再者，本發(fā)明的圖式僅作為示意說明，其未必按比例繪制，且實(shí)際實(shí)施的所有細(xì)節(jié)也未必全部呈現(xiàn)于圖式中。

請同時(shí)參閱圖1A、圖1B、圖2A、及圖2B，圖1A、1B為一光電組件的示意圖，圖2A為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例采用非接觸型測距模組的示意圖，圖2B為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的系統(tǒng)框架圖。圖1A、1B中顯示有一光電組件E，其包括一光電轉(zhuǎn)換元件E1、一套筒E2、及一固定套環(huán)E3，其中固定套環(huán)E3套接于套筒E2，套筒E2套接于光電轉(zhuǎn)換元件E1，而固定套環(huán)E3則是用于耦接一光纖(圖中未示)。

再者，如圖2A、2B中所示，本實(shí)例主要包括測距模組1、控制器4、以及旋轉(zhuǎn)臺(tái)5；其中測距模組1設(shè)置于光電組件E的一側(cè)，而光電組件E固定于旋轉(zhuǎn)臺(tái)5上，且控制器4電性連接于測距模組1和旋轉(zhuǎn)臺(tái)5。另外，本實(shí)施例的測距模組1包括一第一測距裝置2、及一第二測距裝置3；其中，第一測距裝置2、及第二測距裝置3沿一直線設(shè)置，且其平行于光電組件E的中心軸；又，第一測距裝置2對應(yīng)于套筒E2，而第二測距裝置3對應(yīng)于固定套環(huán)E3。

在本第一實(shí)施例中，第一測距裝置2、及第二測距裝置3采用非接觸型測距模組，例如微波測距模組、紅外線測距模組、雷射測距模組或超音波測距模組。然而，非接觸式測距的原理主要是透過發(fā)射光源，當(dāng)光源的光束擊中待測物之后，接收經(jīng)由待測物反射的反彈光束，并且以飛行時(shí)間法(Time of Flight，TOF)計(jì)算光束來回時(shí)間轉(zhuǎn)換成與待測物的距離，或者使用相位法計(jì)算與待測物的距離。

另外，于此特先說明，本發(fā)明的測距模組1并不以采用二個(gè)測距裝置或多個(gè)測距裝置為限，在其他的實(shí)施態(tài)樣中亦可使用單一測距裝置來進(jìn)行量測，而單一測距裝置可以線或面掃瞄的方式、或者搭配移動(dòng)載具來對固定套環(huán)E3、及套筒E2進(jìn)行測距。

請一并參閱圖3A、3B，圖3A、3B為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例的局部放大示意圖，以下說明本實(shí)施例的檢測方式。首先，控制器4控制第一測距裝置2、及第二測距裝置3分別對光電組件E的套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上一第一位置進(jìn)行測距；亦即，如圖3A中所示，第一測距裝置2、及第二測距裝置3所量測到的測距值分別為 D1與D2。接著，旋轉(zhuǎn)臺(tái)5旋轉(zhuǎn)一特定角度，而控制器4控制第一測距裝置2、及第二測距裝置3分別對套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上一第二位置進(jìn)行測距；即如圖3B中所示，第一測距裝置2、及第二測距裝置3所量測到的測距值分別為D1′與D2′。

接著，控制器4根據(jù)上述步驟中所取得的該等測距值D1，D2，D1′，D2′，來判斷光電組件E的套筒E2和固定套環(huán)E3間的同心度。其中，本實(shí)施例提供以下兩種判斷方法，第一種方法是比對同一元件(即套筒E2、或固定套環(huán)E3)上不同位置(即第一位置和第二位置)的測距值，第二種方式則是比對不同元件(即套筒E2、及固定套環(huán)E3)在相同位置(即同一軸向方位處的第一位置或第二位置)所分別量測到的測距值的差值。

詳細(xì)說明之，在本發(fā)明所提供的第一種同心度的判斷方式中，控制器4分別比對第一測距裝置2于光電組件E的套筒E2的外環(huán)周面上第一位置和第二位置所量測到的測距值D1，D1′、以及比對第二測距裝置3于光電組件E的固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上第一位置和第二位置所量測到的測距值D2，D2′。據(jù)此，藉由比對測距值D1，D1′，便可得知套筒E2在第一位置和第二位置是否有偏移，如果測距值D1，D1′不相符或超出一預(yù)定量，便可判斷套筒E2的同心度不足，為瑕疵品。同理，如果測距值D2，D2′不相符或超出一預(yù)定量，便可判斷固定套環(huán)E3的同心度不足，為瑕疵品。

請同時(shí)參閱圖4A、4B、4C，圖4A是同心度不足的光電組件的俯視示意圖，圖4B是根據(jù)圖4A所顯示的光電組件所繪制出的測距值與角度的關(guān)系圖，圖4C是同心度良好的光電組件所繪制出的測距值與角度的關(guān)系圖。如圖中所示，本實(shí)施例更進(jìn)一步地對光電組件E進(jìn)行360度的量測，并透過數(shù)據(jù)分析繪制成測距值與角度的關(guān)系圖。

其中，如果檢測到如圖4A所示的同心度不足的光電組件E時(shí)，360度測距值與角度的關(guān)系圖即如圖4B所示，此時(shí)因?yàn)樘淄睧2同心度良好，故套筒E2的360度測距值將呈現(xiàn)水平直線E22；另一方面，因固定套環(huán)E3的軸心E31已明顯偏離套筒E2的軸心E21，故固定套環(huán)E3的360度測距值將呈現(xiàn)不規(guī)則弧線E32，而可輕易看出此一光電組件E的同心度不足，屬瑕疵品。此外，如果檢測到同心度良好的光電組件E時(shí)，則應(yīng)該呈現(xiàn)如圖4C所示的關(guān)系圖，其中套筒E2、以及固定套環(huán)E3的360度測距值都將呈現(xiàn)等距的水平直線。

接著，請?jiān)賲㈤唸D3A、3B，在本發(fā)明所提供的第二種同心度的判斷方式中，控制器4進(jìn)一步分別對套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上第一位置所量測到的測距值D1，D2進(jìn)行運(yùn)算，求其差值；且也對第二位置所量測到的測距值D1′，D2′進(jìn)行運(yùn)算，求其差值；而控制器4比對該等差值來判斷光電組件E的套筒E2和固定套環(huán)E3間的同心度。

詳細(xì)說明之，在第二種同心度的判斷方式中，控制器4計(jì)算在第一位置上第一測距裝置2與第二測距裝置3所分別量測到的測距值D1，D2的差值，即(D1-D2)；接著，控制器4計(jì)算在第二位置上，第一測距裝置2與第二測距裝置3所分別量測到的測距值D1′，D2′的差值，即(D1′-D2′)。據(jù)此，藉由比對該等差值，便可得知套筒E2或固定套環(huán)E3是否有偏移，如果所運(yùn)算出的差值不相符或超出一預(yù)定量，便可判斷同心度不足，為瑕疵品。當(dāng)然，在本發(fā)明的其他實(shí)施態(tài)樣中，也不以僅差值作為判斷條件為限，亦可以和值(D1+D2)、積值(D1×D2)、商值(D1÷D2)、或其他運(yùn)算方式來作為判斷條件。

請參閱圖4D，圖4D為同心度良好的光電組件所繪制出的測距值的差值與角度的關(guān)系圖。本實(shí)施例更進(jìn)一步地對光電組件E進(jìn)行360度的量測，并透過數(shù)據(jù)分析繪制成測距值的差值與角度的關(guān)系圖。如圖中所示，圖中顯示出一水平直線，即表示在每一個(gè)量測位置中，第一測距裝置2與第二測距裝置3所量測到的測距值的差值皆為同一固定值，即表示所量測的光電組件E的同心度良好。另一方面，如果圖中顯示出一不規(guī)則線段時(shí)，則表示光電組件E的同心度不良，屬瑕疵品。

請參閱圖5，圖5為本發(fā)明第一較佳實(shí)施例采用接觸型測距模組的示意圖。圖5與圖2A中所示的設(shè)備主要差異在于，圖5所示的設(shè)備采用了接觸型測距模組，其包括二頂桿21，31，該等頂桿21，31系分別抵接于套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上。其中，進(jìn)行量測時(shí)，頂桿21，31將隨著光電組件E的套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面變化而發(fā)生機(jī)械式的作動(dòng)位移，測距模組便將此機(jī)械式位移轉(zhuǎn)換成電信號，用以呈現(xiàn)測距值。

請參閱圖6，圖6為本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的示意圖。圖6所示的第二實(shí)施例與前述第一實(shí)施例主要差異在于，第一實(shí)施例是透過旋轉(zhuǎn)臺(tái)5轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而帶動(dòng)光電組件E旋轉(zhuǎn)，以供測距模組1來量測套筒E2及固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上不同方位的測距值；然而，本實(shí)施例則是采用了測距模組1以光電組件E為中心繞行的方式來進(jìn)行量測。詳言之，圖中顯示有一繞行載具6，其包括一環(huán)形軌道61、及一移載裝置62，移載裝置62可以沿著環(huán)形軌道61來繞行，而第一測距裝置2與第二測距裝置3則組設(shè)于移載裝置62上。據(jù)此，本實(shí)施例可透過移載裝置62來帶動(dòng)測距模組1以光電組件E為中心繞行，用以協(xié)助測距模組1對套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面進(jìn)行多方位的測距。

請參閱圖7，圖7為本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的示意圖。第三實(shí)施例與第二實(shí)施例采用了相同方式，即是利用測距模組1以光電組件E為中心繞行的方式來進(jìn)行量測。惟，第三實(shí)施例與第二實(shí)施例的主要差異在于繞行載具6的實(shí)施型態(tài)不同，本實(shí)施例的繞行載具6為一轉(zhuǎn)動(dòng)架7，其呈U型，而測距模組1則設(shè)置于轉(zhuǎn)動(dòng)架7二側(cè)的內(nèi)側(cè) 壁上。據(jù)此，只要透過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)架7，測距模組1即可以光電組件E為中心繞行并進(jìn)行量測，故可輕易地且快速地檢測光電組件的同心度。

請參閱圖8，圖8為本發(fā)明第四較佳實(shí)施例的示意圖。本實(shí)施例與前述所有實(shí)施例的主要差異在于，本實(shí)施例采取固定式量測，也就是不論測距模組1或光電組件E均不作旋轉(zhuǎn)或繞行，直接進(jìn)行量測。詳言之，圖8中所顯示的測距模組1包括第一測距裝置2、第二測距裝置3、第三測距裝置22、及第四測距裝置32，其中第一測距裝置2和第二測距裝置3沿一直線設(shè)置，第三測距裝置22和第四測距裝置32沿另一直線設(shè)置，而該等直線皆分別平行于光電組件E的中心軸且彼此相距90度。

然而，控制器4可控制第一測距裝置2、及第三測距裝置22同時(shí)對光電組件E的套筒E2的外環(huán)周面上二處進(jìn)行測距，且控制器4亦可控制第二測距裝置3、及第四測距裝置32同時(shí)對光電組件E固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上二處進(jìn)行測距。據(jù)此，本實(shí)施例可同時(shí)對套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上二處進(jìn)行測距，更可提高檢測效率，且因?yàn)楸緦?shí)施例采取固定式量測，故可更加提高檢測精度。

請參閱圖9，圖9為本發(fā)明第五較佳實(shí)施例的示意圖。本實(shí)施例為前述第四實(shí)施例的擴(kuò)充，第五實(shí)施例同樣采用了固定式量測，但測距模組1則在光電組件E的四環(huán)周配置了四組共八個(gè)測距裝置，其分別以光電組件E為中心各距90度的方式等距配置。據(jù)此，本實(shí)施例可同時(shí)對套筒E2和固定套環(huán)E3的外環(huán)周面上四處進(jìn)行測距，更可提高檢測效率、及檢測精度。

此外，上述第四實(shí)施例和第五實(shí)施例也不以固定式量測為限，亦可搭配第一實(shí)施例的旋轉(zhuǎn)臺(tái)5或第二、三實(shí)施例的繞行載具6，藉此可更加提高檢測效率。

上述實(shí)施例僅系為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自應(yīng)以權(quán)利要求書所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。