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      Xrf設(shè)備及其樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法、裝置的制造方法_2

      文檔序號(hào):8941456閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
      沒有移動(dòng)到目標(biāo)待測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)已正確移動(dòng)到目標(biāo)測(cè)試點(diǎn)時(shí),則開始測(cè)試該測(cè)試點(diǎn)。
      [0026]請(qǐng)參考圖2,本發(fā)明還提供了一種XRF設(shè)備的樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試裝置,其是與上述方法對(duì)應(yīng)的裝置,可用于實(shí)施上述方法。因此,本裝置與上述方法重復(fù)之處,在此不再贅述。
      [0027]該樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試裝置包括:第一獲取模塊,用于獲取待測(cè)樣品I在移動(dòng)平臺(tái)2上的圖像;顯示模塊,用于顯示圖像;第二獲取模塊,用于獲取用戶在顯示的圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn);控制模塊,用于根據(jù)用戶選擇的至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制移動(dòng)平臺(tái)2運(yùn)動(dòng)以使待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。
      [0028]在用戶進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試前,先通過第一獲取模塊獲取待測(cè)樣品I在移動(dòng)平臺(tái)2上的圖像,例如,可以將該圖像進(jìn)行放大處理,然后再由顯示模塊顯示出來(lái)以供用戶在該圖像上點(diǎn)選目標(biāo)的測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)用戶開始選擇時(shí),第二獲取模塊獲取用戶的輸入,于是控制模塊就能自動(dòng)地按確認(rèn)的測(cè)試點(diǎn)的位置,使得待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)到測(cè)試位置,然后開始測(cè)試。本發(fā)明特別適用于部分不均勻的樣品,極大地改善了用戶體驗(yàn),并提高了測(cè)試效率。
      [0029]優(yōu)選地,該控制模塊在完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試后,自動(dòng)控制移動(dòng)平臺(tái)2切換至下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn),以使下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至測(cè)試中心位置處。
      [0030]請(qǐng)參考圖3,本發(fā)明還提供了一種XRF設(shè)備的樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試裝置,包括:攝像單元3,用于獲取待測(cè)樣品I在移動(dòng)平臺(tái)2上的圖像;顯示單元4,用于顯示圖像;輸入單元,用于輸入用戶在顯示的圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn);控制單元5,用于根據(jù)用戶選擇的至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制移動(dòng)平臺(tái)2運(yùn)動(dòng)以使待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。
      [0031]在用戶進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試前,先通過攝像單元3獲取待測(cè)樣品I在移動(dòng)平臺(tái)2上的圖像,例如,可以將該圖像進(jìn)行放大處理,然后再由顯示單元4顯示出來(lái)以供用戶在該圖像上點(diǎn)選目標(biāo)的測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)用戶通過輸入單元開始選擇目標(biāo)的測(cè)試點(diǎn),于是控制單元5就能自動(dòng)地按確認(rèn)的測(cè)試點(diǎn)的位置,使得待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)到測(cè)試位置,然后開始測(cè)試。本發(fā)明特別適用于部分不均勻的樣品,極大地改善了用戶體驗(yàn),并提高了測(cè)試效率。
      [0032]優(yōu)選地,控制單元5在完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試后,自動(dòng)控制移動(dòng)平臺(tái)2切換至下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn),以使下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至測(cè)試中心位置處。
      [0033]優(yōu)選地,移動(dòng)平臺(tái)2包括X軸步進(jìn)電機(jī)和Y軸步進(jìn)電機(jī),X軸步進(jìn)電機(jī)和Y軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)在XY方向上運(yùn)動(dòng),以使待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。
      [0034]本發(fā)明還提供了一種XRF設(shè)備,包括上述的裝置。
      [0035]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō),本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種XRF設(shè)備的樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法,其特征在于,包括: 獲取待測(cè)樣品(I)在移動(dòng)平臺(tái)(2)上的圖像; 顯示所述圖像; 獲取用戶在顯示的所述圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn); 根據(jù)用戶選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)運(yùn)動(dòng)以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括: 在完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試后,自動(dòng)控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)切換至下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn),以使所述下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至所述測(cè)試中心位置處。3.根據(jù)權(quán)利要求1至2所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:通過使所述移動(dòng)平臺(tái)(2)在XY方向上的運(yùn)動(dòng),以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3所述的方法,其特征在于,根據(jù)所述圖像對(duì)用戶選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn)通過圖像識(shí)別得到所述多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的位置,以控制所述移動(dòng)平臺(tái)⑵的運(yùn)動(dòng)。5.一種XRF設(shè)備的樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試裝置,其特征在于,包括: 第一獲取模塊,用于獲取待測(cè)樣品(I)在移動(dòng)平臺(tái)(2)上的圖像; 顯示模塊,用于顯示所述圖像; 第二獲取模塊,用于獲取用戶在顯示的所述圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn); 控制模塊,用于根據(jù)用戶選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)運(yùn)動(dòng)以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述控制模塊在完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試后,自動(dòng)控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)切換至下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn),以使所述下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至所述測(cè)試中心位置處。7.—種XRF設(shè)備的樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試裝置,其特征在于,包括: 攝像單元(3),用于獲取待測(cè)樣品(I)在移動(dòng)平臺(tái)(2)上的圖像; 顯示單元(4),用于顯示所述圖像; 輸入單元,用于輸入用戶在顯示的所述圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn); 控制單元(5),用于根據(jù)用戶選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)運(yùn)動(dòng)以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述控制單元(5)在完成一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試后,自動(dòng)控制所述移動(dòng)平臺(tái)(2)切換至下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn),以使所述下一個(gè)待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至所述測(cè)試中心位置處。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述移動(dòng)平臺(tái)(2)包括X軸步進(jìn)電機(jī)和Y軸步進(jìn)電機(jī),所述X軸步進(jìn)電機(jī)和Y軸步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述移動(dòng)平臺(tái)在XY方向上運(yùn)動(dòng),以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。10.一種XRF設(shè)備,其特征在于,包括權(quán)利要求5至9所述的裝置。
      【專利摘要】本發(fā)明提供了一種XRF設(shè)備及其樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法、裝置。樣品自動(dòng)定位多點(diǎn)測(cè)試方法包括:獲取待測(cè)樣品在移動(dòng)平臺(tái)上的圖像;顯示所述圖像;獲取用戶在顯示的所述圖像上選擇的多個(gè)待測(cè)點(diǎn);根據(jù)用戶選擇的所述至少一個(gè)待測(cè)點(diǎn),控制所述移動(dòng)平臺(tái)運(yùn)動(dòng)以使所述待測(cè)點(diǎn)依次位于測(cè)試中心位置處。本發(fā)明特別適用于部分不均勻的樣品,極大地改善了用戶體驗(yàn),并提高了測(cè)試效率。
      【IPC分類】G01N23/223
      【公開號(hào)】CN105158285
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510492908
      【發(fā)明人】胡中衛(wèi), 邵波
      【申請(qǐng)人】深圳市西凡謹(jǐn)頓科技有限公司
      【公開日】2015年12月16日
      【申請(qǐng)日】2015年8月12日
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