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      存儲(chǔ)器及其形成方法與流程

      文檔序號(hào):11586808閱讀:來(lái)源:國(guó)知局

      技術(shù)特征:

      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)器及其形成方法,其中,所述存儲(chǔ)器包括下拉晶體管和傳輸晶體管,下拉晶體管包括:第一柵極結(jié)構(gòu);第一柵極結(jié)構(gòu)包括第一柵介質(zhì)層、第一柵極以及位于第一柵介質(zhì)層與第一柵極之間的第一功函數(shù)層;第一柵極結(jié)構(gòu)下方的第一區(qū)域襯底中具有第一摻雜離子;傳輸晶體管包括:第二柵極結(jié)構(gòu);第二柵極結(jié)構(gòu)包括第二柵介質(zhì)層、第二柵極以及位于第二柵介質(zhì)層與第二柵極之間的第二功函數(shù)層;第二柵極結(jié)構(gòu)下方的第二區(qū)域襯底中具有第二摻雜離子;第一功函數(shù)層的功函數(shù)大于第二功函數(shù)層的功函數(shù),第一摻雜離子濃度小于第二摻雜離子濃度。其中,通過(guò)使第一摻雜離子的濃度小于第二摻雜離子濃度,增大存儲(chǔ)器的beta率,提高存儲(chǔ)器的靜態(tài)噪聲容量。

      技術(shù)研發(fā)人員:楊曉蕾;李勇;居建華
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國(guó)際集成電路制造(北京)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:2016.02.04
      技術(shù)公布日:2017.08.11
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