技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及熱電材料技術(shù)領(lǐng)域的一種量子阱超晶格共膜覆形生長的工程,尤其涉及量子阱超晶格厚膜熱電材料及其生產(chǎn)方法。
背景技術(shù):
熱電材料是利用固體內(nèi)載流子和聲子的傳輸及相互作用來實現(xiàn)熱能和電能相互轉(zhuǎn)換的半導(dǎo)體功能材料,具有無噪、輕便、綠色等優(yōu)點,在溫差發(fā)電和制冷領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價值和前景。自從能源危機之后,發(fā)達國家都在尋求高效、無污染的能量轉(zhuǎn)換方式,以達到合理有效利用余熱、廢熱、地?zé)?、太陽能以及海洋溫差等能量的目的?/p>
Bi2Te3是目前熱電行業(yè)已經(jīng)商業(yè)化的主要熱電材料,廣泛應(yīng)用于新器件、新能源等高新綠色環(huán)保產(chǎn)業(yè)。Bi2Te3半導(dǎo)體材料是以鉍、碲等為原料,按一定的化學(xué)組成和摻雜工藝制備得到。溫差發(fā)電是塞貝克效應(yīng)在發(fā)電技術(shù)方面的應(yīng)用, 而賽貝克系數(shù)或材料的ZT值決定了熱電器件的發(fā)電效率。商業(yè)化的Bi2Te3的ZT值僅能達到有0.70左右,相應(yīng)的器件熱電轉(zhuǎn)換效率極低,嚴(yán)重限制了其應(yīng)用。
傳統(tǒng)的定向凝固法早期用于生產(chǎn)Bi2Te3晶棒材料,通過調(diào)控材料生長的冷卻速率等來制備高質(zhì)量的Bi2Te3單晶材料,但這種方法能耗大,而且機械性能較差,不利于之后進一步的生產(chǎn)加工,在器件制造過程中造成浪費且影響整體器件的工作壽命,導(dǎo)致較高的廢品率。還有一種傳統(tǒng)方法是粉末冶金法,主要用于制備多晶粉體材料,利用傳統(tǒng)的球磨和熔煉工藝最終得到想要的熱電材料。盡管冶金法合成的材料的機械性能由于多晶結(jié)構(gòu),而有所增強,也有效避免了區(qū)熔材料易解離的缺點,但在關(guān)鍵的熱電性能上由于低致密度材料結(jié)構(gòu)并不理想,尤其熱電優(yōu)值(ZT)更低。
用于制備高質(zhì)量熱電超晶格薄膜的技術(shù)主要有分子束外延法(MBE)、電化學(xué)原子層外延法(EC-ALE)和金屬有機化合物氣相沉積(MOCVD)。首選方法是分子束外延(MBE),眾所周知,這種方法存在設(shè)備復(fù)雜,價格昂貴和工藝過程復(fù)雜等缺陷,這種慢速而又昂貴的技術(shù)僅在制造的量子阱超晶格厚度在100納米量級時或產(chǎn)品用于高精尖國防工業(yè)時才具備可行性。
EC-ALE法雖然簡單,設(shè)備成本低廉,但存在著影響因素復(fù)雜,比如沉積電勢,電極,襯底材料特性,溶液溫度,電解質(zhì)濃度等交互影響,從而導(dǎo)致薄膜可能出現(xiàn)質(zhì)量較差,成分偏離化學(xué)計量比及形貌不一致等缺陷。因此用EC-ALE方法制備成分復(fù)雜或高性能的超晶格熱電薄膜材料較為困難。
MOCVD方法與MBE方法類似,存在著工藝設(shè)備復(fù)雜,生產(chǎn)成本昂貴和工藝過程復(fù)雜等缺陷,其最大的限制還在于原材料,其原材料為金屬有機化合物,合成困難,成本高且大都有毒、易爆、易燃,在薄膜的制備過程中會釋放有毒氣體如 (H2Te、H2Se) ,造成環(huán)境污染。
利用氧化鋁(AAO)納米孔模板,結(jié)合電化學(xué)沉積方法是非常有效的一維納米材料合成方法,發(fā)明人曾利用氧化鋁(AAO)納米孔模板成功地合成碳納米管和鈷納米線陣列[1,2]。Manin等利用該方法獲得Bi2Te3納米線陣列,加州大學(xué)伯克利分校的A.Stacy成功的獲得了沿<110>方向取向生長的具有單晶特性的Bi2Te3納米線陣列[3-5]。這些納米線熱電材料的性能雖有改善,但合成的材料質(zhì)量仍不令人滿意,納米線的結(jié)晶度不高,更不具有量子阱或原子層界面結(jié)構(gòu)。
1. Hongguo Zhang et al, J. of The Electrochemical Society, 2007, 154(2): H124-H126
2. Hongguo Zhang et al, Electrochem. Solid-State Lett. 2008 11:K57-K60
3. S.Sapp,C.Martin,Advanced Materials, 1999,JJ,402.
4. A.Priet,A.Stacy,J. of American Chemical Society, 2001,123,7160.
5. M.Sander,A.Stacy,Advanced Materials, 2002,14, 665。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種生產(chǎn)具有厚膜超晶格量子阱結(jié)構(gòu)的熱電材料的方法,本發(fā)明能夠生產(chǎn)微米級厚度的厚膜熱電超晶格材料,而且生產(chǎn)工藝成本低、效率高、設(shè)備相對簡單,所生產(chǎn)的熱電材料性能好、轉(zhuǎn)換效率高。
為實現(xiàn)上述技術(shù)目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:
量子阱厚膜超晶格熱電材料的生產(chǎn)方法,其特征在于包括以下步驟:
通過原子層沉積的方法,在納米孔模板的納米孔內(nèi)生長熱電材料,所述熱電材料從納米孔的內(nèi)壁開始生長,然后沿納米孔徑向方向逐層生長,直到納米孔長滿為止,形成具有量子阱超晶格結(jié)構(gòu)的厚膜熱電材料。
進一步的,所述納米孔模板可以為Al2O3、TiO2或者SiO2。
進一步的,納米孔模板為納米孔孔徑不超過200納米。
進一步的,所述納米孔模板的納米孔為兩側(cè)開口并且連通的雙通孔或者僅一側(cè)開口的單通孔或者為所述通孔和單通孔的組合。
進一步的,所述納米孔的孔壁厚度徑為5-50nm。
進一步的,所述熱電材料為Bi2Te3或者Sb2Te3 或者Bi2Te3/Sb2Te3復(fù)合熱電材料。
進一步的,包括以下步驟:
(1)脈沖Te氣相前驅(qū)體:
向反應(yīng)腔室中連續(xù)引入Te氣相前驅(qū)體,所述Te氣相前驅(qū)體為碲有機前驅(qū)體碲源材料;所述反應(yīng)腔室內(nèi)的襯底基板溫度為100 oC -200oC;所述襯底為氧化鋁納米孔模板;
(2)清洗Te氣相前驅(qū)體:
當(dāng)氧化鋁納米孔模板表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時,停止引入所述Te氣相前驅(qū)體; 同時引入惰性氣體,以將反應(yīng)腔室中殘余的Te氣相前驅(qū)體清洗干凈;
(3)脈沖Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體:
向反應(yīng)腔室中連續(xù)引入Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體;所述Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體為鉍有機氣相前驅(qū)體源材料和/或銻有機氣相前驅(qū)體源材料;所述反應(yīng)腔室內(nèi)的基板襯底溫度為100 oC -200oC;所述襯底為氧化鋁納米孔模板;
(4)清洗Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體:
當(dāng)氧化鋁納米孔模板表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時,停止引入所述Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體;同時引入惰性氣體,以將反應(yīng)腔室中殘余的Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體清洗干凈;
(5)反應(yīng)循環(huán):
步驟(1)-(4)循環(huán)進行,直至氧化鋁納米孔模板的納米孔長滿為止。
進一步的,通過控制反應(yīng)循環(huán)數(shù)控制超晶格熱電材料薄膜的徑向或橫向生長,最終形成縱向厚膜超晶格熱電材料。
進一步的,清洗Bi氣相前驅(qū)體和清洗氣相Te前驅(qū)體步驟中,使用的清洗氣體是高純氮氣或氬氣。
進一步的,通過調(diào)整氧化鋁納米孔模板在氣相前驅(qū)體中的暴露時間,確保在高深寬比結(jié)構(gòu)的氧化鋁納米孔模板內(nèi)壁上共形覆膜生長Bi2Te3量子阱超晶格熱電材料。
進一步的,所述碲有機前驅(qū)體碲源材料為二叔丁基碲。
進一步的,所述鉍有機氣相前驅(qū)體源材料為三鉍(2,2,6,6-四甲基-3,5-庚二酮)。
進一步的,所述銻有機前驅(qū)體碲源材料為二叔丁基碲或者三乙基銻。
為實現(xiàn)上述技術(shù)目的,本發(fā)明采取的另一種技術(shù)方案為:采用上述的量子阱厚膜超晶格熱電材料的生產(chǎn)方法所生產(chǎn)出來的量子阱超晶格厚膜熱電材料。
本發(fā)明應(yīng)用高寬比氧化鋁納米孔模板,共形膜覆生長厚膜量子阱超晶格熱電材料;本發(fā)明利用原子層沉積技術(shù),以超高高寬比多孔納米孔模板(例如氧化鋁納米孔模板)為襯底,經(jīng)由化學(xué)的方法快速合成厚膜超晶格熱電材料(例如Bi2Te3超晶格厚膜熱電材料),生成的厚膜超晶格熱電材料的厚度可達50-500μm,從而實現(xiàn)材料的高熱電優(yōu)值(ZT),及潛在的器件高熱電轉(zhuǎn)換效率;本發(fā)明可在非高真空的條件下,低成本快速生產(chǎn)具有設(shè)定厚度超晶格材料,而且性能遠優(yōu)于現(xiàn)有的技術(shù)報道。
理論和實驗都已經(jīng)證明具有原子層量子阱超晶格納米微結(jié)構(gòu)的熱電材料必然擁有優(yōu)良的熱電性能(參見1. HicksLD et a1.Physics RevB,1993,47:12 727;2. Hicks LD et a1.Appl Phys Lett,1993,63:3230;3. Broido D A et a1.ApplPhys Lett,1997,70:2834;4. HicksLD ela1.Phys Rev B,1996,53:R10 493;5. Venkatasubramanian R et a1.Nature,2001,413:597) ,因為:(1) 在費米能級附近增加材料的態(tài)密度,從而提高Seebeck系數(shù);(2)由于量子阱約束,通過摻雜,增加載流子的遷移率;(3)原子層界面增加,可以顯著增加聲子的界面散射,大大降低材料的導(dǎo)熱系數(shù);(4)隨著超晶格材料微結(jié)構(gòu)納米化和更低的維度,熱電優(yōu)值將隨著材料微結(jié)構(gòu)尺度的減小而大大增加。
ALD工藝具有一獨特的特征,就是對具有高深寬比 (High Aspect Ratio) 結(jié)構(gòu)形貌有著良好的保形性(共形覆膜),我們充分利用這一特征優(yōu)勢,結(jié)合已經(jīng)商業(yè)化的AAO納米孔模板,可以在短時間內(nèi)成功得到厚度在1-500微米的具有量子阱超晶格結(jié)構(gòu)的厚膜熱電材料。
總之,本發(fā)明基于雙通氧化鋁納米孔模板,利用原子層沉積(ALD)的方法,來生長厚膜量子阱超晶格熱電材料,提供了一種低成本快速生長高性能熱電材料的策略,實現(xiàn)超高高寬比模板上生產(chǎn)高質(zhì)量超晶格熱電材料的有效方法,并保障材料的性能優(yōu)異;具體技術(shù)效果為:
(1)提供了一種利用超高高寬比模板生產(chǎn)低成本高性能厚膜量子阱超晶格熱電材料的方法,并且所生長的熱電材料具有優(yōu)異的熱電性能,從而實現(xiàn)在商業(yè)化熱電器件時,余、廢熱高效轉(zhuǎn)化為電能,或者優(yōu)良的致冷性能;
(2)所生長的熱電材料熱電優(yōu)值高,可以達到1.50,而且可以在各種基板實現(xiàn),尤其是在鋁,鋁合金或其他柔性導(dǎo)電基板,從而降低熱電器件的制造成本。
附圖說明
圖1為實施例1中氧化鋁納米孔模板的掃描電子顯微鏡照片。
圖2為實施例1中ALD生長的Bi2Te3量子阱超晶格熱電材料的掃描電子顯微鏡照片。
圖3為本發(fā)明不同ALD循環(huán)數(shù)生長的Bi2Te3的熱電優(yōu)值。
圖4為本發(fā)明生長的Sb2Te3的熱電優(yōu)值。
圖5為本發(fā)明生長的Bi2Te3/Sb2Te3的熱電優(yōu)值。
具體實施方式
以下結(jié)合具體實施例,進一步闡述本發(fā)明。這些實施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍。下列實施例中未注明具體條件的實驗方法,通常按照常規(guī)條件或按照制造廠商所建議的條件。除非另行定義,文中所使用的所有專業(yè)與科學(xué)用語與本領(lǐng)域熟練人員所熟悉的意義相同。此外,任何與所記載內(nèi)容相似或均等的方法及材料皆可應(yīng)用于本發(fā)明方法中。文中所述的較佳實施方法與材料僅作示范之用。
實施例1
本量子阱超晶格厚膜熱電材料的生產(chǎn)方法,包括以下步驟:
(1)脈沖Te氣相前驅(qū)體:
向反應(yīng)腔室中連續(xù)引入Te氣相前驅(qū)體,所述Te氣相前驅(qū)體為碲有機前驅(qū)體碲源材料;所述反應(yīng)腔室內(nèi)的襯底基板溫度為100 oC -200oC;所述襯底為氧化鋁納米孔模板;
(2)清洗Te氣相前驅(qū)體:
當(dāng)氧化鋁納米孔模板表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時,停止引入所述Te氣相前驅(qū)體; 同時引入惰性氣體,以將反應(yīng)腔室中殘余的Te氣相前驅(qū)體清洗干凈;
(3)脈沖Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體:
向反應(yīng)腔室中連續(xù)引入Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體;所述Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體為鉍有機氣相前驅(qū)體源材料和/或銻有機氣相前驅(qū)體源材料;所述反應(yīng)腔室內(nèi)的基板襯底溫度為100 oC -200oC;所述襯底為氧化鋁納米孔模板;
(4)清洗Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體:
當(dāng)氧化鋁納米孔模板表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時,停止引入所述Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體;同時引入惰性氣體,以將反應(yīng)腔室中殘余的Bi和/或Sb氣相前驅(qū)體清洗干凈;
(5)反應(yīng)循環(huán):
步驟(1)-(4)循環(huán)進行,直至氧化鋁納米孔模板的納米孔長滿為止。
本實施例中,向反應(yīng)腔室中交替連續(xù)引入兩種氣相前驅(qū)體;所述兩種氣相前驅(qū)體分別是Te氣相前驅(qū)體和Bi氣相前驅(qū)體;所述Te氣相前驅(qū)體為二叔丁基碲(Di(t-butyl)tellurium,DTBTe,純度99.99%),所述Bi氣相前驅(qū)體為三(2,2,6,6-四甲基-3,5-庚二酮)鉍Tris(2,2,6,6-tetramethylheptan-3,5-dionato)bismuth, Bi(thd)3,純度99.99%);所述反應(yīng)腔室內(nèi)的溫度為100 -200oC;所述襯底為氧化鋁納米孔模板; 當(dāng)氧化鋁納米孔模板表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時,自動停止吸附所引入的氣相前驅(qū)體;氧化鋁納米孔模板為超高寬比氧化鋁納米孔模板,參見圖1;惰性氣體為氬氣。
(2)反應(yīng)循環(huán)交替進行,直至氧化鋁納米孔模板的納米孔填滿;每個反應(yīng)循環(huán)包含以下四個步驟:
脈沖Bi前驅(qū)體,
清洗Bi前驅(qū)體;
脈沖Te前驅(qū)體,
清洗Te前驅(qū)體。
進一步的,通過控制反應(yīng)循環(huán)數(shù)控制量子阱超晶格熱電材料納米界面微結(jié)構(gòu),最終形成厚膜超晶格熱電材料。清洗Bi前驅(qū)體和清洗Te前驅(qū)體步驟中,使用的清洗氣體是高純氮氣或氬氣。通過調(diào)整氧化鋁納米孔模板在氣相前驅(qū)體中的暴露時間,實現(xiàn)Bi或Te在表面的飽和吸附,達到在高深寬比結(jié)構(gòu)的氧化鋁納米孔模板內(nèi)壁上共形覆膜生長Bi2Te3量子阱超晶格熱電材料,最終形成Bi2Te3厚膜超晶格熱電材料。
本實施例中,厚膜超晶格熱電材料即為Bi2Te3厚膜超晶格熱電材料,AAO襯底孔徑為150nm左右,用原子層沉積(ALD)方法制備Bi2Te3厚膜超晶格熱電材料,氣相前驅(qū)體源為三(2,2,6,6-四甲基-3,5-庚二酮)鉍Tris(2,2,6,6-tetramethylheptan-3,5-dionato)bismuth,Bi(thd)3)和二叔丁基碲(Di(t-butyl)tellurium,DTBTe),基底是超高寬比氧化鋁納米孔模板,載氣為氬氣,具體參數(shù)如下:襯底溫度:150℃;清洗:N2/Ar;管線溫度:100℃;反應(yīng)腔室加熱溫度:60-200℃;Chamber: 100-200℃;反應(yīng)工藝壓力:0.10 torr;根據(jù)0.10torr的反應(yīng)壓力,設(shè)置載氣流量,有三個氬氣的管道,流量分別為30,20,16 sccm;
工藝參數(shù): Dose—Reaction--Purge—Goto—End 1s 2.5s 80s 800循環(huán)。
本實施例的主要工藝過程與優(yōu)勢如下:
通過在一個加熱(100-200oC)反應(yīng)腔室中)上交替連續(xù)引入兩種氣相前驅(qū)體物種二叔丁基碲(Di(t-butyl)tellurium,DTBTe,純度99.99%)和三(2,2,6,6-四甲基-3,5-庚二酮)鉍Tris(2,2,6,6-tetramethylheptan-3,5-dionato)bismuth, Bi(thd)3,純度99.99%);
AAO襯底表面達到化學(xué)吸附的飽和狀態(tài)時自動停止,可均勻地生長薄膜;
無需控制前驅(qū)體流量的均一性,適當(dāng)?shù)募訜釡囟龋?00-200oC)可以阻礙前驅(qū)體分子在AAO襯底表面的物理吸附;
4)循環(huán)(cycles)不斷重復(fù),直至AAO納米孔填滿為止;每個循環(huán)四個步驟:
脈沖Bi前驅(qū)體,
清洗Bi前驅(qū)體;
脈沖Te前驅(qū)體,
清洗Te前驅(qū)體。
生長時間取決于納米孔半徑,通過控制反應(yīng)循環(huán)數(shù)(cycles)精確地控制薄膜的生長,可以達到原子層厚度精度的薄膜;
清洗氣體可以是高純氮氣或惰性氣體,如氬氣;
材料的質(zhì)量取決于前驅(qū)體氣體的擴散;ALD系統(tǒng)可以靈活性地調(diào)整前驅(qū)體材料的暴露時間。通入的前驅(qū)體(反應(yīng)氣體)在反應(yīng)腔室中停留較長的時間,可增加前驅(qū)體氣體在空內(nèi)壁表面的暴露時間,從而確保在高深寬比結(jié)構(gòu)的AAO樣品內(nèi)壁表面上達到前驅(qū)體元素的飽和吸附,并共形覆膜生長Bi2Te3量子阱超晶格材料;
真正的材料厚度取決于AAO納米孔的深度;
從對所生長的材料的表征結(jié)果來看,材料的熱電優(yōu)值得到了有效的提高,達到了1.5,參見圖3;圖2所示為利用該發(fā)明方法制備的Bi2Te3納米超晶格厚膜樣品的掃描電子顯微鏡照片。
本實施例所生產(chǎn)的熱電材料具備高質(zhì)量,高性能,低成本,有利于打開許多迷你而有趣的微電子市場:如快速溫度調(diào)整的儀器,微流體,醫(yī)療,生物醫(yī)學(xué)和制藥(PCR,血液分析,藥品回收),發(fā)射器溫度穩(wěn)定(激光器,LEDs)等。
本實施例所生長的Bi2Te3量子阱超晶格材料在室溫時熱優(yōu)值達1.56的,如果進一步優(yōu)化工藝,材料的熱電優(yōu)值應(yīng)在2.0以上,具有極大的商業(yè)化價值和廣闊的應(yīng)用前景。
本發(fā)明的范圍不受所述具體實施方案的限制,所述實施方案只作為闡明本發(fā)明各個方面的單個例子,本發(fā)明范圍內(nèi)還包括功能等同的方法和組分。實際上,除了本文所述的內(nèi)容外,本領(lǐng)域技術(shù)人員參照上文的描述和附圖可以容易地掌握對本發(fā)明的多種改進。所述改進也落入所附權(quán)利要求書的范圍之內(nèi)。上文提及的每篇參考文獻皆全文列入本文作為參考。
實施例2
本實施例2與實施例1的不同之處在于,所述反應(yīng)腔室內(nèi)的基板襯底溫度為180 oC;所述襯底為Al2O3納米孔模板;反應(yīng)腔室加熱溫度: 100℃;相同之處不再詳述。
實施例3
本實施例3與實施例1的不同之處在于,所述襯底為TiO2納米孔模板;所述反應(yīng)腔室內(nèi)的基板襯底溫度為175 oC;反應(yīng)腔室加熱溫度:150℃;相同之處不再詳述。
實施例4
參見圖4,本實施例4與實施例1的不同之處在于,所引入反應(yīng)腔室內(nèi)的一種前驅(qū)體為三乙基銻(Triethylantimony,TESb純度99.99%)或其他銻源,基板襯底溫度為180 oC;所述襯底為Al2O3納米孔模板;反應(yīng)腔室加熱溫度:150℃;相同之處不再詳述。
實施例5
參見圖5,本實施例5與實施例1的不同之處在于,交替引入反應(yīng)腔室內(nèi)的一種前驅(qū)體為鉍、銻和碲前驅(qū)體源;基板襯底溫度為180 oC;所述襯底為Al2O3納米孔模板;反應(yīng)腔室加熱溫度:150℃;相同之處不再詳述。