本公開涉及半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法。
背景技術(shù):
1、半導(dǎo)體裝置具有在半導(dǎo)體基板設(shè)置有igbt(insulated?gate?bipolartransistor:絕緣柵雙極型晶體管)、二極管等半導(dǎo)體元件的構(gòu)造。專利文獻(xiàn)1所記載的半導(dǎo)體裝置具有將半導(dǎo)體基板與布線層連接的接觸插頭。由于接觸插頭使形成于其上部的電極平坦化,所以之后的半導(dǎo)體裝置的制造工序中的組裝性提高。
2、專利文獻(xiàn)1:日本特開2019-29581號公報(bào)
3、在設(shè)置于半導(dǎo)體基板之上的布線或電極被平坦化的情況下,形成于其半導(dǎo)體基板的上表面的各層的界面也被平坦化,因此這些層構(gòu)造經(jīng)不住橫向的應(yīng)力。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本公開為了解決上述的課題,其目的在于提供一種維持組裝性且應(yīng)力耐量提高的半導(dǎo)體裝置。
2、本公開所涉及的半導(dǎo)體裝置包括多個(gè)溝槽、多個(gè)溝槽電極、絕緣膜以及第1電極。多個(gè)溝槽設(shè)置于半導(dǎo)體基板的上表面。多個(gè)溝槽電極分別設(shè)置于多個(gè)溝槽的內(nèi)部。絕緣膜覆蓋多個(gè)溝槽電極中的兩個(gè)以上的溝槽電極。第1電極設(shè)置于絕緣膜上。絕緣膜包括開口,該開口設(shè)置于被該絕緣膜覆蓋的兩個(gè)以上的溝槽電極之間。第1電極以堵塞開口的方式設(shè)置于半導(dǎo)體基板上。多個(gè)溝槽電極的每一個(gè)的上表面包括第1凹部。絕緣膜的上表面在第1凹部的正上方包括第2凹部。第1電極的上表面在開口的正上方包括第3凹部。
3、根據(jù)本公開,提供維持組裝性且應(yīng)力耐量提高的半導(dǎo)體裝置。
4、本公開的目的、特征、方面以及優(yōu)點(diǎn)通過以下詳細(xì)的說明和所附附圖而變得更加清楚。
1.一種半導(dǎo)體裝置,其中,
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
6.根據(jù)權(quán)利要求3~5中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
7.根據(jù)權(quán)利要求1~6中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
8.根據(jù)權(quán)利要求1~7中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
9.根據(jù)權(quán)利要求1~8中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
10.根據(jù)權(quán)利要求1~9中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
12.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
13.根據(jù)權(quán)利要求1~12中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
14.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
15.根據(jù)權(quán)利要求1~14中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
16.根據(jù)權(quán)利要求1~15中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
17.根據(jù)權(quán)利要求1~16中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的半導(dǎo)體裝置,其中,
19.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,是權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中,
20.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,是權(quán)利要求17所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中,
21.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,是權(quán)利要求18所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中,