專(zhuān)利名稱(chēng)：Lcd偏光片不良品檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及LCD偏光片不良檢查技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
IXD偏光片不良在行業(yè)中的不良率一直在2% -3%左右，而這些不良品Bonding FPC和IC甚至組裝上背光后才能檢測(cè)出，這樣就浪費(fèi)了很多FPC、IC、背光，增加了成本。 更為甚者，有些不良品BondingFPC和IC甚至組裝上背光后需要人員去經(jīng)過(guò)1_2次檢測(cè) 才能發(fā)現(xiàn)，浪費(fèi)了大量的人力。所以如果在LCD使用前就挑出偏光片不良，那么可以降低 2% -3%的材料損耗。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型旨在提供一種用于檢測(cè)LCD偏光片不良品的檢測(cè)裝置。為實(shí)現(xiàn)該技術(shù)目的，本實(shí)用新型的方案是一種LCD偏光片不良品檢測(cè)裝置，包括 底座和支架，所述支架上裝置有鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述燈架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡㈤]的開(kāi)關(guān)件。本方案利用偏光片的偏振原理鹵素?zé)籼赜械墓庾V，可以不點(diǎn)亮LCD就發(fā)現(xiàn)一些 LCD和偏光片的瑕疵。

圖1為本實(shí)用新型的實(shí)施例之一的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。如圖1所示，本實(shí)用新型的具體實(shí)施例之一的LCD偏光片不良品檢測(cè)裝置，它包括 底座1和支架2，所述支架2上裝置有鹵素?zé)?以及將該鹵素?zé)舭惭b于支架上的燈架3。燈 架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡㈤]的開(kāi)關(guān)件5。以上所述，僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例，并不用以限制本實(shí)用新型，凡是依據(jù)本 實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何細(xì)微修改、等同替換和改進(jìn)，均應(yīng)包含在本 實(shí)用新型技術(shù)方案的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種IXD偏光片不良品檢測(cè)裝置，包括底座和支架，其特征在于所述支架上裝置有 鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于所述燈架上還設(shè)置有控制鹵素?zé)魡?閉的開(kāi)關(guān)件。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種LCD偏光片不良品檢測(cè)裝置，包括底座和支架，所述支架上裝置有鹵素?zé)粢约皩⒃擕u素?zé)舭惭b于支架上的燈架。本方案利用偏光片的偏振原理和鹵素?zé)籼赜械墓庾V，可以不點(diǎn)亮LCD就發(fā)現(xiàn)一些LCD和偏光片的瑕疵。
文檔編號(hào)G01M11/02GK201788080SQ20102052710
公開(kāi)日2011年4月6日 申請(qǐng)日期2010年9月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月10日
發(fā)明者李小林 申請(qǐng)人:深圳市天正達(dá)電子有限公司