一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，包括：檢測陽極化前外圓尺寸；硬質(zhì)陽極化；測陽極化后外圓尺寸：往基體外生長的膜層厚度：δo=δ1÷2，δ1為千分表檢測厚度；膜層厚度δ=δo+δi，δo為往基體外生長厚度；δi往基體內(nèi)生長厚度。測厚儀檢測膜層厚度，測得膜層厚度為δ2；或金相法檢測膜層厚度：用截面顯微檢測膜層厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相顯微鏡最準(zhǔn)確地測量膜層厚度δ3；膜層厚度生長量化值（即往基體外生長的膜層厚度與膜層厚度量化值）：δo/（δ2或δ3）。本發(fā)明能得到具體的量化值，以保證工件陽極化后與計(jì)算得來的預(yù)計(jì)尺寸一致。
【專利說明】一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及金屬表面處理防護(hù)工程【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是對一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]目前，在鋁合金材料類工件上進(jìn)行硬質(zhì)陽極化時(shí)，所采用的是陽極電化學(xué)法，是將經(jīng)過脫脂、水洗、活化及水洗干凈的6061-T6材料類工件通電下槽浸入硫酸+草酸的溶液中，工件作為陽極，陰極采用鉛板制作，在-2?2°C溫度下進(jìn)行陽極氧化，使工件表面生成一層厚而耐磨的硬質(zhì)陽極化膜層。理論上工件硬質(zhì)陽極化膜層厚度往基體內(nèi)方向生長的膜層厚度與往基體外生長的膜層厚度近似相等，但在實(shí)際加工時(shí)，膜層厚度與膜層生長存在一定的量化值，現(xiàn)在在計(jì)算硬質(zhì)陽極化前后尺寸時(shí)是通過膜層往基體里生長的膜厚與往基體外生長的膜厚相等得來的，這樣會導(dǎo)致陽極化后往往達(dá)不到計(jì)算得來的預(yù)計(jì)尺寸。因而機(jī)械加工時(shí)，需要考慮該膜層生長量化值，找出一種硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，以得到具體的量化值，以保證工件陽極化后達(dá)到計(jì)算得來的預(yù)計(jì)尺寸，這是得到現(xiàn)代工業(yè)【技術(shù)領(lǐng)域】所期待的膜層連續(xù)、光滑、結(jié)合力良好、顏色均勻、無疏松膜層及耐磨的膜層。
[0004]
【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于克服上述缺點(diǎn)而提供的一種能得到具體的量化值，以保證工件陽極化后與計(jì)算得來的預(yù)計(jì)尺寸一致的鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法。
[0006]本發(fā)明的一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，包括以下步驟:
(1)檢測陽極化前外圓尺寸
在恒溫20?21°C溫度下，用千分表檢測尺寸，粗糙儀檢測光潔度，表面光潔度0.4 ；
(2)硬質(zhì)陽極化
膜層厚度要求在46?55 μ m,常規(guī)方法進(jìn)行硬質(zhì)陽極化；
(3)檢測陽極化后外圓尺寸
在恒溫20?21°C環(huán)境溫度下，用千分表檢測外圓尺寸；
測量工件前、后尺寸差值的絕對值即為膜層厚度往基體外生長的兩倍；即:往基體外生長的膜層厚度:S ο= S 1 + 2其中:S I為千分表檢測厚度；
膜層厚度δ = δ 0+ δ i
其中:δ ο為往基體外生長厚度；δ i往基體內(nèi)生長厚度。[0007](4)測厚儀檢測膜層厚度，測得膜層厚度為δ 2 ；
或金相法檢測膜層厚度:用截面顯微檢測膜層厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相顯微鏡最準(zhǔn)確地測量膜層厚度δ3 ；
膜層厚度生長量化值(即往基體外生長的膜層厚度與膜層厚度量化值):δ 0/ ( δ 2或δ 3)。
[0008]上述的一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，其中:為防止表面膜層厚度均勻性影響檢測誤差，在零件表面作檢測厚度位置標(biāo)記，檢測尺寸及厚度測量均在同一位置，即硬質(zhì)陽極化前后尺寸測量位置、測厚儀測量位置、金相法檢測位置均在同—處。
[0009]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有明顯的有益效果，從以上技術(shù)方案可知:本發(fā)明根據(jù)基體表面狀況，采用硬質(zhì)陽極化前外圓尺寸檢測、硬質(zhì)陽極化后外圓尺寸檢測、測厚儀測量膜層厚度(或金相法檢測膜層厚度)的方法，得出鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量，即膜層厚度生長量與膜層厚度之間存在的關(guān)系:即S0/δ (δ0為膜層向基體外生長量，δ為膜層厚度)。根據(jù)該量化值，來替代現(xiàn)有技術(shù)中0.5這個系數(shù)(硬質(zhì)陽極化前后尺寸時(shí)是通過膜層往基體里生長的膜厚與往基體外生長的膜厚相等)進(jìn)行計(jì)算，能保證工件陽極化后與計(jì)算得來的預(yù)計(jì)尺寸一致，從而得到所期待的膜層連續(xù)、光滑、結(jié)合力良好、顏色均勻、無疏松膜層及耐磨的膜層。
[0010]本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】由以下實(shí)施例詳細(xì)給出。
[0011]
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合實(shí)例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述，進(jìn)一步解釋和說明本發(fā)明的技術(shù)方案特點(diǎn)。
[0013]實(shí)施例1:
一種鋁合金6061-Τ6硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，包括以下步驟:
(1)精加工外圓
工件數(shù)控加工至光潔度0.4，工件數(shù)量16件；
(2)檢測外圓陽極化前尺寸
粗糙儀檢測外圓光度均為0.4，在21°C溫度下放置24h后用精度為0.001的外徑千分表檢測外圓Φ32.986 mm實(shí)際尺寸，每件記錄2個點(diǎn)的實(shí)測值，同一工件上不同位置的2個點(diǎn)，并在零件上對測量位置作標(biāo)記，實(shí)測值結(jié)果見表1:
表I工件硬質(zhì)陽極化前尺寸實(shí)測值
【權(quán)利要求】
1.一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，包括以下步驟: (1)檢測陽極化前外圓尺寸 在恒溫20?21°C溫度下，用千分表檢測尺寸，粗糙儀檢測光潔度； (2)硬質(zhì)陽極化 膜層厚度要求在46?55 μ m,常規(guī)方法進(jìn)行硬質(zhì)陽極化； (3)檢測陽極化后外圓尺寸 在恒溫20?21°C環(huán)境溫度下，用千分表檢測外圓尺寸； 測量工件前、后尺寸差值的絕對值即為膜層厚度往基體外生長的兩倍，往基體外生長的膜層厚度:δ0=δ 1 + 2 其中:S I為千分表檢測厚度； 膜層厚度δ = δ 0+ δ i 其中:δ ο為往基體外生長厚度；δ i往基體內(nèi)生長厚度； (4)測厚儀檢測膜層厚度，測得膜層厚度為δ2 ； 或金相法檢測膜層厚度:用截面顯微檢測膜層厚度，在制作的磨片截面上，借助于金相顯微鏡最準(zhǔn)確地測量膜層厚度δ3 ； 膜層厚度生長量化值:δ 0/ δ 2或δ 0/ δ 3。
2.如權(quán)利要求1所述的一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，其中:在零件表面作檢測厚度位置標(biāo)記，硬質(zhì)陽極化前后尺寸測量位置、測厚儀測量位置、金相法檢測位置均在同一處。
3.如權(quán)利要求1或2所述的一種鋁合金硬質(zhì)陽極化膜層厚度生長量化值的測量方法，其中:表面光潔度0.4。
【文檔編號】G01B11/06GK103630038SQ201310669285
【公開日】2014年3月12日 申請日期:2013年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月11日
【發(fā)明者】夏兆蓉, 李宏, 楊亞先 申請人:貴州紅林機(jī)械有限公司