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      一種無損探傷設(shè)備的制造方法

      文檔序號(hào):10623793閱讀:270來源:國(guó)知局
      一種無損探傷設(shè)備的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種無損探傷設(shè)備,包括基座,檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu),所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置在基座的一側(cè),檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元,置物單元和活動(dòng)單元,所述成像單元設(shè)置在置物單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng),所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè),置物單元和成像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè),所述活動(dòng)單元包括至少一個(gè)連桿,連桿分別與成像單元和置物單元連接。通過活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng),讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像,成像單元的底片上成像位置不變,利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng),達(dá)到斷層掃描的效果,降低干擾,提供高成像品質(zhì)。
      【專利說明】
      一種無損探傷設(shè)備
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本發(fā)明涉及一種無損探傷設(shè)備。【背景技術(shù)】
      [0002]無損檢測(cè)設(shè)備通常用于檢測(cè)物體內(nèi)部是否具有缺陷,無損檢測(cè)設(shè)備可采用多種手段進(jìn)行檢測(cè),其中通過放射線(例如X光線)檢測(cè)被廣泛應(yīng)用。X光線檢測(cè)通過產(chǎn)生的X光照片來判斷被檢測(cè)物是否具有缺陷,因此其對(duì)X光照片的質(zhì)量要求較高,質(zhì)量較差的X光照片無法由肉眼判讀,而且可能導(dǎo)致誤判,從而產(chǎn)生使用風(fēng)險(xiǎn)。
      [0003]X光成像方式是利用穿透被測(cè)物的X光,經(jīng)過成像裝置形成X光照片。傳統(tǒng)X光照射法為靜態(tài)照射法,成像裝置包括由化學(xué)物質(zhì)構(gòu)成的感光底片,通過底片曝光成像,因此 X光機(jī)、被測(cè)物與底片需固定放置在同一直線上。當(dāng)X光進(jìn)入被測(cè)物后,X光可能被吸收、產(chǎn)生散射或穿透,上述現(xiàn)象均會(huì)影響底片成像的質(zhì)量,因此當(dāng)被測(cè)物為厚度不一或有裂痕的金屬材質(zhì)時(shí),所受到的干擾較多,成像品質(zhì)較差。所述干擾指成像中存在非被測(cè)物結(jié)構(gòu)的成像,且通常被測(cè)物在照片上成像有失真與模糊等現(xiàn)象。所有的被測(cè)物在X光影像中比實(shí)物大,甚至是同一物體卻產(chǎn)生不同形狀,導(dǎo)致失真。
      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術(shù)的問題,提供了一種能夠動(dòng)態(tài)成像,降低干擾,使得成像更加清晰的一種無損探傷設(shè)備。
      [0005]具體技術(shù)方案為:一種無損探傷設(shè)備,包括基座,檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu),所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)置在基座的一側(cè),檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元,置物單元和活動(dòng)單元,所述成像單元設(shè)置在置物單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng),所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè),置物單元和成像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè),所述活動(dòng)單元包括至少一個(gè)連桿,連桿分別與成像單元和置物單元連接。
      [0006]以下為本發(fā)明的附屬技術(shù)方案。
      [0007]進(jìn)一步的,所述成像單元和置物單元包括至少一個(gè)滑動(dòng)件,滑動(dòng)件可相對(duì)基座進(jìn)行滑動(dòng)。
      [0008]進(jìn)一步的,所述滑動(dòng)件可以是滾輪、滑軌或其組合。
      [0009]進(jìn)一步的,所述活動(dòng)單元還包括動(dòng)力組件,動(dòng)力組件包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合。
      [0010]進(jìn)一步的,所述活動(dòng)單元包括鏈條,鏈條分別與成像單元連接。
      [0011]進(jìn)一步的,所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。
      [0012]進(jìn)一步的,所述置物單元包括凹槽。
      [0013]本發(fā)明的技術(shù)效果:通過活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng),讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像,成像單元的底片上成像位置不變,利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng),達(dá)到斷層掃描的效果,降低干擾,提供高成像品質(zhì)。【附圖說明】
      [0014]圖1是本發(fā)明的實(shí)施例無損探傷設(shè)備的示意圖。
      [0015]圖2是本發(fā)明的實(shí)施例無損探傷設(shè)備的局部示意圖。
      [0016]圖3是本發(fā)明的實(shí)施例無損探傷設(shè)備的局部剖視示意圖?!揪唧w實(shí)施方式】
      [0017]下面,結(jié)合實(shí)例對(duì)本發(fā)明的實(shí)質(zhì)性特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)作進(jìn)一步的說明,但本發(fā)明并不局限于所列的實(shí)施例。
      [0018]如圖1至圖3所示,本實(shí)施例的無損探傷設(shè)備包括基座200,檢測(cè)機(jī)構(gòu)300和放射機(jī)構(gòu)400,放射機(jī)構(gòu)400用于發(fā)出放射線,例如X光線。所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)300設(shè)置在基座200 的一側(cè),檢測(cè)機(jī)構(gòu)300包括成像單元310,置物單元320和活動(dòng)單元330,所述成像單元310 設(shè)置在置物單元320 —側(cè)且可相對(duì)置物單元320運(yùn)動(dòng),成像單元310設(shè)有底片。所述活動(dòng)單元330設(shè)置在置物單元320的同一側(cè),置物單元320和成像單元310可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),所述放射機(jī)構(gòu)400設(shè)置在置物單元320的另一側(cè),所述活動(dòng)單元330包括至少一個(gè)連桿331,連桿331分別與成像單元310和置物單元320連接,使得成像單元310與置物單元 320產(chǎn)生聯(lián)動(dòng)。上述技術(shù)方案通過活動(dòng)單元330使成像單元310與置物單元320產(chǎn)生聯(lián)動(dòng), 成像單元31C的底片上成像位置不變,利用被測(cè)物往復(fù)移動(dòng),達(dá)到斷層掃描的效果,降低干擾,進(jìn)行放射線掃描時(shí)只有放射線聚焦斷面的影像清晰,其余位置模糊,從而判斷待測(cè)物是否有缺陷。本實(shí)施例中,所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。
      [0019]優(yōu)選的,作為一種實(shí)施方式,所述成像單元310和置物單元320包括至少一個(gè)滑動(dòng)件311,滑動(dòng)件311可相對(duì)基座200進(jìn)行滑動(dòng)。所述滑動(dòng)件311可以是滾輪、滑軌或其組合。
      [0020]優(yōu)選的,作為一種實(shí)施方式,所述活動(dòng)單元330還包括動(dòng)力組件332,動(dòng)力組件332 包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合,動(dòng)力組件332用于做往復(fù)運(yùn)動(dòng),帶動(dòng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)300與活動(dòng)單元 330。
      [0021]優(yōu)選的,所述活動(dòng)單元330包括鏈條333,鏈條333分別與成像單元310連接,形成封閉回路,當(dāng)動(dòng)力組件332驅(qū)動(dòng)鏈條333時(shí),鏈條333可帶動(dòng)成像單元310在基座200上做向前或向后的滑動(dòng)。所述置物單元320上設(shè)有凹槽,用于放置待測(cè)物。
      [0022]本實(shí)施例通過活動(dòng)單元將放置被測(cè)物的置物單元與成像單元產(chǎn)生聯(lián)動(dòng),讓被測(cè)物于放射光源中進(jìn)行動(dòng)態(tài)照射成像,從而使得成像更清晰。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種無損探傷設(shè)備,包括基座,檢測(cè)機(jī)構(gòu)和放射機(jī)構(gòu),其特征在于:所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè) 置在基座的一側(cè),檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括成像單元,置物單元和活動(dòng)單元,所述成像單元設(shè)置在置物 單元一側(cè)且可相對(duì)置物單元運(yùn)動(dòng),所述活動(dòng)單元設(shè)置在置物單元的同一側(cè),置物單元和成 像單元可同時(shí)進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng),所述放射機(jī)構(gòu)設(shè)置在置物單元的另一側(cè),所述活動(dòng)單元包括 至少一個(gè)連桿,連桿分別與成像單元和置物單元連接。2.如權(quán)利要求1所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述成像單元和置物單元包括至 少一個(gè)滑動(dòng)件,滑動(dòng)件可相對(duì)基座進(jìn)行滑動(dòng)。3.如權(quán)利要求2所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述滑動(dòng)件可以是滾輪、滑軌或其 組合。4.如權(quán)利要求3所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述活動(dòng)單元還包括動(dòng)力組件,動(dòng) 力組件包括馬達(dá)、液壓、氣壓或其組合。5.如權(quán)利要求1至4中任一權(quán)利要求所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述活動(dòng)單 元包括鏈條,鏈條分別與成像單元連接。6.如權(quán)利要求5所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述連桿與放射機(jī)構(gòu)樞軸連接。7.如權(quán)利要求6所述的無損探傷設(shè)備,其特征在于:所述置物單元包括凹槽。
      【文檔編號(hào)】G01N23/04GK105987921SQ201510081775
      【公開日】2016年10月5日
      【申請(qǐng)日】2015年2月12日
      【發(fā)明人】李楊
      【申請(qǐng)人】天津市卓陽(yáng)無損檢測(cè)有限公司
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