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      一種用于觸摸屏的ito薄膜制造方法

      文檔序號:6461123閱讀:203來源:國知局
      專利名稱:一種用于觸摸屏的ito薄膜制造方法
      技術領域
      本發(fā)明涉及一種在各種電子設備中的操作中使用的觸摸屏制造方法。
      背景技術
      ITO(Indium Tin Oxides,銦錫金屬氧化物)是一種N型氧化物半導體-氧化銦錫, ITO薄膜即銦錫氧化物半導體設在薄膜的一面形成的透明導電膜。 現有電阻式觸摸屏主要采用濕制程蝕刻方法制造,先將需要的部份用耐酸性油墨 保護起來后,再通過酸性化學藥水將不需要的ITO薄膜蝕刻掉,然后再通過堿性化學藥水 將表面的耐酸性油墨去除掉,最后用水將表面清潔干凈,干燥后進行后序生產流程。在觸摸 屏的制造過程中,ITO薄膜的清潔度是一重要參數,清潔度不高的ITO薄膜都需要按不合格 品處理。由于該方法在制造用于觸摸屏的ITO薄膜的過程中,ITO薄膜接觸到堿性藥水及 蝕刻設備相關清潔工具,容易造成ITO薄膜刮傷、剌傷、污垢存在等現象,容易造成觸摸蝕 刻過度或外觀不良等問題,從而造成生產的成品率較低。

      發(fā)明內容
      本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,該方法 可以提供較高的潔凈度,從而提高ITO薄膜成品率。 為了解決上述問題,本發(fā)明提供一種用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,該方法包 括以下步驟 設置蝕刻保護層,在ITO薄膜的正面設置蝕刻保護層;
      蝕刻處理,對ITO薄膜正面進行蝕刻;
      清潔處理,對蝕刻后的ITO薄膜進行清洗; 剝離蝕刻保護層,將經過清潔處理的ITO薄膜的蝕刻保護層從ITO薄膜上剝離;
      設置正面保護層,在ITO薄膜的正面可視區(qū)域設置正面保護層;
      印制銀線,在ITO薄膜的正面四周印制銀線。 優(yōu)選地,所述蝕刻保護層的厚度為15um 35um,再對該蝕刻保護層進行烘烤熱 固,該熱固溫度為130°C 15(TC,熱固時間為10分鐘 20分鐘。
      優(yōu)選地,所述設置蝕刻保護層之前還包括
      設置反面保護層;
      預縮處理。 優(yōu)選地,在設置反面保護層時,反面保護層的厚度為15um 35um,再對該保護層
      進行烘烤熱固,該熱固溫度為130°C 15(TC,熱固時間為10分鐘 20分鐘。 優(yōu)選地,所述預縮處理在溫度為130°C 16(TC,預縮時間為60分鐘 120分鐘。 優(yōu)選地,在所述印制銀線之后,還包括印制銀線保護層,該銀線保護層經過紫外線
      固化處理或熱固處理。優(yōu)選地,所述紫外線固化處理時,該紫外線強度為700mj/cm2 800mj/cm2。
      優(yōu)選地,所述熱固處理時,該熱固溫度為80°C 15(TC,熱固時間為20分鐘 40分鐘。 優(yōu)選地,在所述印制銀線保護層之后還包括,在ITO薄膜的正面四周設置粘合劑。
      本發(fā)明ITO薄膜的制造方法,首先,在ITO薄膜的正面設置蝕刻保護層,并對ITO 薄膜的正面進行蝕刻處理,再對蝕刻處理的ITO薄膜進行清潔處理,再剝離設在正面的蝕 刻保護層,并立刻在ITO薄膜的正面可視區(qū)域設置正面保護層,最后在設有正面保護層的 ITO薄膜四周印制銀線。與現有技術相比,經過蝕刻處理后,ITO薄膜上始終有蝕刻保護層 對ITO薄膜進行保護,可以在對ITO薄膜進行清潔處理時,提供較高的潔凈度,同時可以避 免ITO薄膜刮傷、氧化,從而可以提高觸摸屏成品率。由于現有技術在清潔處理時需要用堿 洗,因此在進行清潔處理時,會將保護層溶解掉,使得ITO薄膜的潔凈度更低。在設置蝕刻 保護層之前還包括設置反面保護層和預縮處理步驟,在ITO薄膜的反面設置反面保護層, 可以對ITO薄膜的反面進行保護;對ITO薄膜進行預縮處理,可以避免ITO薄膜在之后工序 中加熱時發(fā)生變形,同時可以避免ITO薄膜的阻值發(fā)生改變。


      圖1是本發(fā)明用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法實施例的流程示意圖;
      圖2是本發(fā)明實施例中設置保護層步驟流程示意圖;
      圖3是本發(fā)明實施例蝕刻保護層示意圖。 本發(fā)明目的的實現、功能特點及優(yōu)點將結合實施例,參照附圖做進一步說明。
      具體實施例方式
      本發(fā)明實施例,用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,經過蝕刻處理后,ITO薄膜上有 蝕刻保護層對ITO薄膜進行保護,可以在對ITO薄膜進行清潔處理時,提供較高的潔凈度, 同時可以避免ITO薄膜刮傷、氧化,從而可以提高觸摸屏成品率。 如圖1所示,本發(fā)明用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,該方法包括以下步驟。
      步驟Sll,設置蝕刻保護層,在ITO薄膜的正面設置蝕刻保護層,該蝕刻保護層對 ITO薄膜上ITO層進行保護,將未受蝕刻保護層保護的ITO層去除。 在制造用于觸摸屏的ITO薄膜時,基本上都在較大面積的ITO薄膜上按需要的面 積進行蝕刻,在蝕刻后的ITO薄膜印銀線等處理后,再將設有銀線的ITO薄膜設置粘合劑, 這樣可以提高生產效率。由于現有技術在設置蝕刻保護層時,在較大面積的ITO薄膜上根 據需要設置多個蝕刻區(qū)域,每個蝕刻區(qū)域設都設有一蝕刻保護層,因此每個蝕刻保護層之 間有間隙。在蝕刻時,蝕刻的藥水可能會從蝕刻保護層的邊緣浸入滲透,可能將部分需要的 TIO層蝕刻掉,使ITO層在ITO薄膜邊緣部分形成鋸齒狀,從而可能導致ITO薄膜電阻會發(fā) 生改變,使觸摸屏不穩(wěn)定性。 如圖3所示,在設置蝕刻保護層1'時,在較大面積的ITO薄膜1上根據需要劃成 幾個條狀區(qū)域,每個條狀區(qū)域設一個蝕刻保護層l'。每個蝕刻保護層1'的面積可以包括 多個需要的ITO薄膜面積大小。例如,將ITO薄膜1設為四個條狀區(qū)域,每個條狀區(qū)域可以 切割成五個需要的ITO薄膜;在設置蝕刻保護層1'時,將五個ITO薄膜設置一個蝕刻保護 層l'。在蝕刻后,根據需要對ITO薄膜進行切割,因此切割后的ITO薄膜邊緣不會出現鋸齒狀,從而在ITO薄膜印制銀線后,ITO薄膜的電阻會不發(fā)生改變,使ITO薄膜制成的觸摸 屏性能更穩(wěn)定。 步驟S12,蝕刻處理,對IT0薄膜的正面進行蝕刻,即對未設置蝕刻保護層的IT0層 進行蝕刻。 步驟S13,清潔處理,對蝕刻后的ITO薄膜進行清洗;具體地說,將蝕刻后的ITO薄 膜進行清洗,再對清洗后的ITO薄膜進行干燥處理。 步驟S14,剝離蝕刻保護層,將經過清潔處理的ITO薄膜的蝕刻保護層剝離;具體 地說,ITO薄膜經過清法處理后,將設置在ITO薄膜正面的蝕刻保護層快速從ITO薄膜上剝 離。 步驟S15,設置正面保護層,在ITO薄膜的正面可視區(qū)域設置正面保護層;具體地 說,在步驟S14中剝離蝕刻保護層的ITO薄膜正面新設置正面保護層,該正面保護層可以對 ITO層和ITO薄膜進行保護,該正面保護層的厚度為15um 35um。所述可視區(qū)域是指在 ITO薄膜與另一 ITO薄膜或ITO玻璃等結合形成觸摸屏上可以顯示的區(qū)域。
      步驟S16,印制銀線,在IT0薄膜的正面四周印制銀線;具體地說,先印制銀線,將 ITO薄膜上電路引出;再對銀線在13(TC溫度烘烤50分鐘。 在本流程中,在所述印制銀線保護層之后還包括在銀線上設置銀線保護層,該銀 線保護層通過紫外線固化處理或熱固化處理,該熱固化也稱為熱固,其中,紫外線在700mj/ cm2 800mj/cm2 (毫焦/平方厘米)條件下進行固化,熱固溫度為80°C 15(TC,熱固時間 為20分鐘 40分鐘。在所述設置銀線保護層之后還可以包括在ITO薄膜的正面四周設 置粘合劑。 如圖2所示,所述設置蝕刻保護層步驟Sll之前還可以包括以下步驟
      步驟S110,設置反面保護層,在IT0薄膜的反面設置反面保護層,該反面保護層用 于保護ITO薄膜的防刮層(Hard-coating),防止ITO薄膜的防刮層被刮傷、污染,造成外觀 不良。所述反面保護層的厚度為15um 35um,并對該反面保護層進行熱固處理,該熱固溫 度為130°C 150。C,熱固時間為10分鐘 20分鐘。 步驟S111,預縮處理,將反面設有反面保護層的ITO薄膜進行預縮處理。由于ITO
      薄膜在后序工序中,需要對其進行干燥和烘烤等熱處理,可以防止ITO薄膜發(fā)生變形和ITO
      層阻值發(fā)生變化,該預縮處理在溫度為130°C 16(TC,加熱60分鐘 120分鐘。 在本實施例中,所述反面為ITO薄膜沒有設有ITO層的面,也即為ITO薄膜的防刮
      面,正面為設有IT0層的面??梢愿鶕枰诓襟ES11之后再進行預縮處理,其他步驟不變。
      所述蝕刻保護層和反面保護層優(yōu)選地為耐酸油墨。 由于在ITO薄膜正面設置蝕刻保護層,并對ITO薄膜的正面進行蝕刻處理,再對蝕 刻處理的ITO薄膜進行清潔處理,并剝離設在正面的蝕刻保護層,再立刻在ITO薄膜的正面 可視區(qū)域設置正面保護層,并在設置有正面保護層的ITO薄膜四周印制銀線。經過蝕刻處 理后,ITO薄膜正面有蝕刻保護層對ITO薄膜進行保護,可以在對ITO薄膜進行清潔處理時, 提供較高的潔凈度,同時可以避免ITO薄膜刮傷、氧化,從而可以提高觸摸屏成品率。在設 置蝕刻保護層之前還包括設置反面保護層和預縮處理步驟,在ITO薄膜的反面設置反面保 護層,可以對ITO薄膜的反面進行保護;對ITO薄膜進行預縮處理,可以避免ITO薄膜在之 后工序中加熱時發(fā)生變形,同時可以避免ITO薄膜的阻值發(fā)生改變。
      以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用 本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關 的技術領域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。
      權利要求
      一種用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于,該方法包括設置蝕刻保護層,在ITO薄膜的正面設置蝕刻保護層;蝕刻處理,對ITO薄膜正面進行蝕刻;清潔處理,對蝕刻后的ITO薄膜進行清洗;剝離蝕刻保護層,將經過清潔處理的ITO薄膜的蝕刻保護層從ITO薄膜上剝離;設置正面保護層,在ITO薄膜的正面可視區(qū)域設置正面保護層;印制銀線,在ITO薄膜的正面四周印制銀線。
      2. 根據權利要求1所述的用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于所述蝕刻 保護層的厚度為15um 35um,再對該蝕刻保護層進行烘烤熱固,該熱固溫度為130°C 15(TC,熱固時間為10分鐘 20分鐘。
      3. 根據權利要求1或2所述的用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于,所述設置 蝕刻保護層之前還包括設置反面保護層; 預縮處理。
      4. 根據權利要求3所述的用于觸摸屏的IT0薄膜制造方法,其特征在于在設置反面 保護層時,反面保護層的厚度為15um 35um,再對該保護層進行烘烤熱固,該熱固溫度為 130°C 150。C,熱固時間為10分鐘 20分鐘。
      5. 根據權利要求3所述的用于觸摸屏的IT0薄膜制造方法,其特征在于所述預縮處 理在溫度為130°C 16(TC,預縮時間為60分鐘 120分鐘。
      6. 根據權利要求1所述的用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于在所述印制 銀線之后,還包括印制銀線保護層,該銀線保護層經過紫外線固化處理或熱固處理。
      7. 根據權利要求6所述的用于觸摸屏的IT0薄膜制造方法,其特征在于所述紫外線 固化處理時,該紫外線強度為700mj/cm2 800mj/cm2。
      8. 根據權利要求6所述的用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于所述熱固處 理時,該熱固溫度為80°C 15(TC,熱固時間為20分鐘 40分鐘。
      9. 根據權利要求6所述的用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,其特征在于在所述印制 銀線保護層之后還包括,在ITO薄膜的正面四周設置粘合劑。
      全文摘要
      本發(fā)明公開一種用于觸摸屏的ITO薄膜制造方法,該方法包括設置蝕刻保護層,在ITO薄膜的正面設置蝕刻保護層;蝕刻處理,對ITO薄膜正面進行蝕刻;清潔處理,對蝕刻后的ITO薄膜進行清洗;剝離蝕刻保護層,將經過清潔處理的ITO薄膜的蝕刻保護層去除;設置正面保護層,在ITO薄膜的正面可視區(qū)域設置保護層;印制銀線,在ITO薄膜的正面四周印制銀線。由于經過蝕刻處理步驟后,ITO薄膜正面蝕刻保護層對ITO薄膜進行保護,可以在對ITO薄膜進行清潔處理時,提供較高的潔凈度,同時可以避免ITO薄膜刮傷、氧化,從而可以提高觸摸屏成品率。
      文檔編號G06F3/041GK101739160SQ20081007213
      公開日2010年6月16日 申請日期2008年11月17日 優(yōu)先權日2008年11月17日
      發(fā)明者鐘定鋒 申請人:深圳市航泰光電有限公司
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